Microelectronics reliability difunde los últimos resultados en investigación e información relacionados con la confiabilidad de dispositivos microelectrónicos, circuitos y sistemas.
Este artículo fue realizado por el Ing. Joaquín Louzao, Ing. Santiago Paz e Ing. Daniel Tejera basándose en su trabajo final de la carrera de Ingeniería en Telecomunicaciones de la Facultad de Ingeniería de ORT.